光焱科技光高靈敏度外部量子效率系統(tǒng)

簡要描述：在半導(dǎo)體器件中，不完好的結(jié)晶度往往會(huì)導(dǎo)致禁帶隙中的缺陷或陷阱態(tài)，這極大地影響了器件的整體光學(xué)和電學(xué)性能。由于帶隙中的吸收系數(shù)極低，產(chǎn)生的光電流信號(hào)也極弱。因此，需要高度靈敏的檢測(cè)系統(tǒng)。 Enlitech 的 FTPS 是一種高靈敏度的光電流和外量子效率 (HS-EQE) 光譜系統(tǒng)。它利用傅里葉變換信號(hào)處理技術(shù)來增強(qiáng)和突破光電流信號(hào)檢測(cè)極限。 EQE 水平可以低至10-5%（7 個(gè)量級(jí)）*。

產(chǎn)品型號(hào)：FTPS
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2025-03-13
訪問量： 12985

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詳細(xì)介紹

品牌	Enlitech	應(yīng)用領(lǐng)域	電子/電池
測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍	≥ 7 orders (>140 dB)	最小光電流測(cè)試能力	≤ 100 fA (10 fA resolution)
測(cè)試重復(fù)性	>99 % (under AM1.5G)	波長范圍	1.1~2.07 eV (600nm~1100nm )
產(chǎn)地類別	進(jìn)口	價(jià)格區(qū)間	面議
測(cè)量模式	咨詢光焱科技專家

產(chǎn)品介紹

　　在半導(dǎo)體器件中，不完整的結(jié)晶度往往會(huì)導(dǎo)致禁帶隙中的缺陷或陷阱態(tài)，這極大地影響了器件的整體光學(xué)和電學(xué)性能。由于帶隙中的吸收系數(shù)極低，產(chǎn)生的光電流信號(hào)也極弱。因此，需要高度靈敏的檢測(cè)系統(tǒng)。

特色

　● 陷阱狀態(tài)、缺陷狀態(tài)或電荷轉(zhuǎn)移狀態(tài)的直接光譜學(xué)證據(jù)。

　● 波長范圍：1.1~2.07 eV (600nm~1100nm)；選項(xiàng)：0.70 eV~2.07 eV (600nm~1800nm)。

　● Turn-key解決方案；安裝后產(chǎn)生可靠的光譜數(shù)據(jù)。節(jié)省時(shí)間和成本效益（至少1年和2萬美元）。

　● 完整的培訓(xùn)課程，包括操作和基本背景培訓(xùn)。

　● 超過 50 篇 SCI 期刊論文證明。

　● 不僅僅是數(shù)據(jù)采集，還包括能級(jí)擬合! 提供CTS和Urbach能級(jí)擬合軟件。

系統(tǒng)設(shè)計(jì)

光焱科技光高靈敏度外部量子效率系統(tǒng)

規(guī)格

10^-⁵%（7 個(gè)量級(jí)）* FTPS系統(tǒng)的檢測(cè)動(dòng)態(tài)可以達(dá)到7 個(gè)量級(jí)，但較低EQE水平由DUT的熱噪聲本身決定。

Model	FTPS (PECT-600)
波長范圍	1.1~2.07 eV（600nm~1100nm）； Option：0.70 eV~2.07 eV（600nm~1800nm）
光電流測(cè)試能力	≤ 100 fA（10 fA resolution）
測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍	≥ 7 orders(>140 dB)
測(cè)試重復(fù)性	>99%（under AM1.5G）
軟件分析	電荷轉(zhuǎn)移能量擬合，Urbach 能量計(jì)算

實(shí)證

光焱科技FTPS傅立葉變換光電流光譜儀實(shí)證如下：

　● Organic PV INFO 于 2021 年 2 月 18 日?qǐng)?bào)道說，了解并大限度地減少性能損失對(duì)于實(shí)現(xiàn)更高的 OPV 效率至關(guān)重要。 PECT-600 的 FTPS 系統(tǒng)正在幫助研究人員了解 Voc 損失機(jī)制的細(xì)節(jié)。

光焱科技光高靈敏度外部量子效率系統(tǒng)